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BeNano 表征溫敏PNIPAm水凝膠

2021-12-23

       關(guān)鍵詞:粒徑、Zeta電位、溫度趨勢(shì)、溫敏高分子材料    


      PNIPAm,聚N-異丙基丙烯酰胺,是一種功能性溫敏高分子材料,從上個(gè)世紀(jì)90年代開始引起科研人員的關(guān)注,具有大量文獻(xiàn)報(bào)道。由于其分子結(jié)構(gòu)特點(diǎn),PNIPAm在低溫為親水的展開構(gòu)象,而溫度超過約32℃,分子內(nèi)鍵合和疏水基團(tuán)的作用下逐漸轉(zhuǎn)變?yōu)槭湛s構(gòu)象。有趣的是,即使是與其他材料復(fù)合或者共聚,PNIPAm分子的溫敏特點(diǎn)都可以得到有效保持,并且其構(gòu)象變化隨升溫或者降溫過程可以逆轉(zhuǎn)。其溫敏特點(diǎn)在醫(yī)藥、智能材料制造領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。


      在這篇應(yīng)用報(bào)告中,我們使用光散射技術(shù)表征了一個(gè)PNIPAm水凝膠的粒徑和Zeta電位隨溫度的變化,研究了溶液環(huán)境對(duì)其結(jié)構(gòu)的影響。


儀器


      采用丹東百特公司的BeNano納米粒度及Zeta電位儀進(jìn)行測(cè)試。BeNano是一臺(tái)多功能光散射設(shè)備,集成了動(dòng)態(tài)光散射、靜態(tài)光散射和電泳光散射技術(shù),可以檢測(cè)顆粒的粒徑、分子量和Zeta電位信息。儀器采用50mW 671nm固體激光器作為光源,APD作為光電檢測(cè)器,通過設(shè)置在與入射光成90°或者180°夾角的檢測(cè)光路檢測(cè)顆粒的粒徑信息,通過設(shè)置在與入射光成12°夾角的檢測(cè)光路檢測(cè)Zeta電位信息。


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圖1 BeNano 180 Zeta Pro納米粒度及Zeta電位儀


原理


動(dòng)態(tài)光散射


      動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)DLS是利用激光照射在樣品溶液或者懸浮液上,通過光電檢測(cè)器檢測(cè)樣品顆粒布朗運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的散射光波動(dòng)隨時(shí)間的變化。利用相關(guān)器的時(shí)間相關(guān)性統(tǒng)計(jì)學(xué)計(jì)算可以得到相關(guān)曲線,進(jìn)而得到顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度,即擴(kuò)散系數(shù)D。通過斯托克斯-愛因斯坦方程,我們把顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度和其粒徑DH聯(lián)系起來:


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       其中kB為玻爾茲曼常數(shù),T為環(huán)境溫度,??為溶劑粘度,DH為顆粒的流體力學(xué)直徑。


電泳光散射


      電泳光散射技術(shù)ELS是利用激光照射在樣品溶液或者懸浮液上,檢測(cè)向前角度的散射光信號(hào)。在樣品兩端施加一個(gè)電場(chǎng),樣品中的帶點(diǎn)顆粒在電場(chǎng)力的驅(qū)動(dòng)下進(jìn)行電泳運(yùn)動(dòng)。由于顆粒的電泳運(yùn)動(dòng),樣品的散射光的頻率會(huì)產(chǎn)生一個(gè)頻移,即多普勒頻移。利用數(shù)學(xué)方法處理散射光信號(hào),得到散射光的頻率移動(dòng),進(jìn)而得到顆粒的電泳運(yùn)動(dòng)速度,即電泳遷移率μ。通過Herry方程,我們把顆粒的電泳遷移率和其Zeta電位ζ聯(lián)系起來:


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       其中ε為介電常數(shù),??為溶劑粘度,f(κα)為Henry函數(shù),κ為德拜半徑倒數(shù),α代表粒徑,κα代表了雙電層厚度和顆粒半徑的比值。、


       Zeta電位是表征顆粒體系穩(wěn)定性的重要測(cè)試指標(biāo)之一。Zeta電位幅值越高,顆粒間相互排斥力越強(qiáng),體系穩(wěn)定性越高。


樣品配置


      PNIPAm樣品為一定濃度的PNIPAm球分散在水性分散劑中,均勻混合,形成水凝膠。


      將樣品放置于BeNano中,通過BeNano的程序溫度測(cè)試功能,將測(cè)試溫度區(qū)間設(shè)置為25℃-50℃范圍,每間隔1℃進(jìn)行一次測(cè)試。首先進(jìn)行升溫實(shí)驗(yàn),然后再進(jìn)行一次降溫實(shí)驗(yàn)。為使樣品達(dá)到足夠的溫度平衡,每個(gè)溫度點(diǎn)設(shè)置60秒溫度平衡時(shí)間。每個(gè)溫度下的進(jìn)行1次測(cè)試最終得到PNIPAm水凝膠的粒徑和Zeta電位隨溫度變化曲線。


結(jié)果與討論


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圖2. PNIPAm水凝膠粒徑和散射光強(qiáng)對(duì)于檢測(cè)溫度的曲線


      圖1中可以看出,在升溫過程中,25℃至50℃范圍內(nèi),PNIPAm水凝膠粒徑隨溫度升高逐漸降低,而散射光強(qiáng)逐漸升高。在低溫25℃時(shí),其粒徑約為700nm,而當(dāng)達(dá)到最終的50℃時(shí),其粒徑降低到約350nm。降溫程序中粒徑和散射光強(qiáng)的變化基本與升溫過程中的現(xiàn)象保持可逆。PNIPAm的粒徑隨溫度升高而降低,是由于當(dāng)環(huán)境溫度超過一個(gè)溫度轉(zhuǎn)變點(diǎn)(大多數(shù)文獻(xiàn)報(bào)道在32℃附近,但依賴于膠體結(jié)構(gòu))PNIPAm分子的疏水性以及氫鍵的形成會(huì)致使其構(gòu)象由親水的膨脹態(tài)急劇轉(zhuǎn)變?yōu)槭杷氖湛s態(tài)。隨著溫度升高,PNIPAm水凝膠粒徑逐漸降低,而散射光強(qiáng)逐漸升高,這是因?yàn)镻NIPAm收縮導(dǎo)致膠體密度增大,導(dǎo)致懸浮液的dn/dc上升,而散射光強(qiáng)正比于(dn/dc)2。


      可以看到,在升溫過程中,溫度轉(zhuǎn)變點(diǎn)滯后于降溫過程中的溫度轉(zhuǎn)變點(diǎn),這是由于在升溫過程中PNIPAm形成氫鍵,需要吸收能量,而降溫過程中氫鍵斷裂釋放能量造成的。

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圖3. PNIPAm水凝膠Zeta電位對(duì)于檢測(cè)溫度的曲線


      圖2中展示了PNIPAm水凝膠的Zeta電位隨溫度變化曲線??梢钥吹皆跈z測(cè)溫度范圍內(nèi)PNIPAm水凝膠eta電位為負(fù)值,說明這個(gè)樣品攜帶負(fù)電,Zeta電位絕對(duì)值隨著溫度升高逐漸增大。在25℃時(shí),PNIPAm的Zeta電位約為-10 mV,而當(dāng)溫度上升到50℃時(shí),其電位上升到約-24 mV。升溫過程和降溫過程,樣品的Zeta電位對(duì)于溫度的依賴性基本一致。 


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      PNIPAm樣品的Zeta電位對(duì)于溫度的依賴性可以通過圖3解釋。在較低溫度下,水凝膠為展開構(gòu)象,具有較大的表面積,其電荷密度相對(duì)較低,而當(dāng)溫度上升,粒徑減小后,表面積降低,表面的電荷密度增加。而Zeta電位反映了電荷密度的程度。


結(jié)論


      在這個(gè)應(yīng)用報(bào)告中,表征了一個(gè)溫敏的PNIPAm樣品,通過BeNano程序化的升溫和降溫程序自動(dòng)的檢測(cè)了樣品在一系列溫度下的粒徑和Zeta電位。通過測(cè)試數(shù)據(jù)可以發(fā)現(xiàn),該應(yīng)用中檢測(cè)的PNIPAm樣品得到的現(xiàn)象和趨勢(shì)符合大部分文獻(xiàn)報(bào)道的結(jié)果。BeNano軟件的程序化溫度測(cè)試功能可以極大的提升該類測(cè)試需求的檢測(cè)效率,為該類應(yīng)用提供了強(qiáng)有力的測(cè)試手段。